측정항목
스펙트럼 반사율
재료: 반투명 필름과 모든 반도체 (투명도에 관계없이)는 측정 가능합니다. 참고로 필름은 최소한 외관상 광택이 있어야 합니다.
두께 영역: 자사의 제품이 측정 할 수 있는 두께 영역은 어느 정도 재료에 의존성이 있습니다. 여기 개략적인 가이드를 참조 하세요:
| 유닛(Unit) | 두께 범위 | |
|---|---|---|
| 최소 | 최대 | |
| Å | 10 | 10^8 |
| nm | 1 | 10^7 |
| kÅ | 0.01 | 10^5 |
| µm | 0.001 | 10000 |
| µm-in | 0.04 | 40^4 |
| mils | 0.00004 | 400 |
| mm | 10^-6 | 10 |
| g/cm^2 | 10^-7 | 1 |
굴절률은 10nm 두께보다 두꺼운 필름에 측정 됩니다.( 물론 이것은 재료 의존성이 있습니다).
박막(층) 수: 최대 3층으로 구성된 각각의 층을 측정할 수 있습니다. 경우에 따라 수 십층도 측정할 수 있습니다
기재: 기재가 거친 경우에는 (거의 모든 금속), 일반적으로 필름의 굴절률을 측정할 수 없습니다. 참고로, 거친 기재를 측정할 수 있는 필름의 두께는 최대50nm입니다.
사전에 필요한 정보: 측정물질의 모든 필름의 대략적 두께와 적층순서와 어떤 재료인지, 알아야 합니다.
광학 Profilometry
자사의 Profilm3D 광학profiler는 표면조도, 표면형상, Step height를 0.1 nm ~10 mm 까지 측정합니다. 가상적으로 어느재료도 측정가능합니다. Step-height 측정기능은 금속류 같은 불투명 재료들을 측정하는데 적합합니다. 자세한 사항은 여기를 click 하시기 바랍니다!
귀하의 측정 사양에 관하여 자사의 박막(Thin Film) 전문가들에게 문의하시기 바랍니다.
Filmetrics는 무상의 샘플 측정을 제공 합니다 - 결과는 보통 1-2일안에 가능 합니다.
