다공성 실리콘
최근 수년 동안 다공성 실리콘에 관한 많은 연구를 진행하여 왔습니다, 광학기기, 가스센서, 생의학 기기를 포함한 다양한 응용분야 대한 다공성 실리콘의 확실한 전망 때문에 관심을 가져오게 되었습니다.
대부분의 신소재 기술과 같이 다공성 실리콘 개발의 일부는 다양한 재료의 특성변수를 어떻게 분석할 수 있는 장비를 찾는데 있어 왔습니다. 다공성 실리콘에 있어서 가장 관심 있는 특성변수는 박막층의 두께 및 다공성입니다.
응용노트 요청중요한 매개 변수는 센서에서 함침된 재료의 양 또는 흡수된 분자량과 같은 공정된 박막층과 관련이 있습니다. Filmetrics에서는 단 한번의 클릭으로 다공성 실리콘의 두께, 광학상수, 다공성을 보여주는 독특한 분석 알고리즘을 개발하여 왔습니다. 이 알고리즘은 다양한 F20과 F40 그리고 F50 장비에서 무상으로 사용 할 수 있습니다.
귀하의 다공성 실리콘 응용분야 관하여 자사의 박막 전문가에게 문의 하시길 바랍니다.
Filmetrics 무상의 샘플측정을 제공 합니다 - 결과는 보통 1-2일 안에 가능 합니다
측정 보기
다공성 실리콘(Porous Silicon) 층은 많은 요소들에 의해 특성화 될 수 있습니다 ,그러나 두께 및 porosity는 중요한 요소들 입니다. 일반적으로, 중량에 의한 측정과 같은 비-파괴 방식은 공극율(porosity) 측정에 사용 되나 이 방식의 정확도는 매우 낮습니다. 비-파괴 기술을 이용하는 Filmetrics F20은 다공성 실리콘(Porous Silicon) 박막의 두께 및 광학적 특성을 측정 할 수 있습니다. Filmetrics의 특허 알고리즘은 또한 박막의 공극율(porosity)를 단 한번의 마우스 클릭으로 정확하게 계산 합니다측정 셋업:
표준 스팟(standard spot)과 반사 프로브(reflection probe)의 F20
사용된 레서피:
측정결과:
